SEM 掃描電鏡
來(lái)源：admin日期：2017-08-04 瀏覽：0
掃描電鏡的電子束不穿過(guò)樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)出二次電子。獲得圖像為立體形象，反映標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。
測(cè)試項(xiàng)目
1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察
2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
掃描電子顯微鏡圖片
| 1.菌類(lèi)（形貌形態(tài)） |  |
| 2.葉片（表面和斷面形貌） |  |
| 3.粉末（形貌） |  |
| 4.淀粉顆粒（形貌） |  |
| 5.水藻（形狀形貌） |  |
| 6.高分子材料（三維空間結(jié)構(gòu)） |  |
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